با استفاده از OghmaNano برای شبیهسازی
Intensity Modulated Photocurrent Spectroscopy (IMPS) و
Impedance Spectroscopy (IS)، درک عمیقتری از دادههای تجربی خود به دست آورید.
این ابزارها به شما امکان میدهند بررسی کنید که چگونه پارامترهای فیزیکی کلیدی — مانند تحرک حامل بار، بهدامافتادن، نرخهای بازترکیب و عناصر مدار پارازیتی — بر پاسخ فرکانسی دستگاه شما تأثیر میگذارند.
مدولاسیون ولتاژ یا نور را اعمال کنید و مشاهده کنید که چگونه جریان و ولتاژ حاصل با فرکانس تغییر میکنند.
بهطور یکپارچه بین تحلیل در حوزه فرکانس و گذرای حوزه زمان جابهجا شوید تا ببینید فاز و دامنه چگونه در طول زمان تکامل مییابند.
این دیدگاه دوگانه به شما کمک میکند فرآیندهای دینامیکی در دستگاه خود را با پاسخ فرکانسی اندازهگیریشده آن مرتبط کنید.
ویژگیهای کلیدی:
راهاندازی سریع و شهودی شبیهسازی برای اندازهگیریهای IMPS و IS.
نمودارهای Nyquist (Re(i) در مقابل Im(i)) برای نمایش رفتار امپدانس مختلط.
نمودارهای به سبک Bode (فرکانس در مقابل Re(i) و فرکانس در مقابل Im(i)) برای تحلیل دامنه و فاز.
بررسی نتایج هم در حوزه فرکانس و هم در گذرای کامل حوزه زمان.
جابهجایی سریع بین شبیهسازیهای IMPS/IS و شبیهسازیهای JV (جریان–ولتاژ) روی همان ساختار دستگاه.
سازگار با اندازهگیریهای مدولهشده با نور و ولتاژ.
مدلسازی تلههای SRH — شبیهسازی تأثیر حالتهای نقص Shockley–Read–Hall بر پاسخ فرکانسی، شامل اثرات چگالی تله، سطح انرژی و سطح مقطع گیراندازی.
اسکنهای فرکانسی وابسته به دما برای مطالعه اینکه چگونه تحرک، بازترکیب و بهدامافتادن تحت شرایط عملیاتی مختلف تغییر میکنند.
حالت پردازش دستهای برای اجرای چندین اسکن در ولتاژهای بایاس، سطوح روشنایی یا پیکربندیهای مختلف دستگاه در یک اجرای خودکار.
خروجی به قالبهای استاندارد مانند CSV برای تحلیل در MATLAB، Python یا ابزارهای تخصصی برازش مانند ZView.
