Wyniki wyszukiwania w OghmaNano.

Na czym polegają testy obciążeniowe?

Większość edytorów symulacji w OghmaNano umożliwia zapisywanie parametrów symulacji na dysku. Wyniki symulacji są zapisywane w postaci zbiorów danych, które przedstawiają zależność od kroku symulacji, a nie jako pojedyncze „migawki” symulacji.

Na przykład:

• Podczas symulacji układu scalonego można rejestrować wartości parametrów w zależności od napięcia.
• W trakcie symulacji przejściowej można rejestrować wartości zmiennych w funkcji czasu.
• W trakcie przeprowadzania analiz parametrów, wartości mogą być zapisywane jako funkcja zmiennej, której wartość jest analizowana.

W przeciwieństwie do migawek symulacji, które przechowują pełny stan wewnętrzny urządzenia w każdym kroku, wyniki analizy w postaci wykresów zawierają zmniejszoną liczbę danych, które zostały już przetworzone i przedstawione w zależności od współrzędnych symulacji.

Dzięki temu analiza danych zebranych podczas pomiarów staje się znacznie łatwiejsza, ponieważ wartości są już uporządkowane w sposób umożliwiający bezpośrednie tworzenie wykresów.

Regulacja parametrów sygnału wyjściowego zazwyczaj znajduje się w oknie konfiguracyjnym odpowiedniego edytora symulacji. Na przykład, edytor JV, przedstawiony na ??, zawiera następującą opcję:

Save parameter sweeps

ustawiono na:

Disk

Usuń pliki wynikowe.

Po włączeniu funkcji generowania sekwencji wyjściowych, OghmaNano tworzy katalog o nazwie:

sweep

W tym katalogu znajdują się zbiory danych opisujące wartości zmiennych w zależności od współrzędnych symulacji, takich jak napięcie lub czas.

Na przykład:

• Zależność gęstości nośników ładunku od napięcia.
• Zależność gęstości prądu od czasu.
• Wpływ umieszczania pułapek na skuteczność w porównaniu z występowaniem czynników zakłócających.
• Zależność między częstością rekombinacji a krokiem symulacji.

Zawartość typowego katalogu, w którym przechowywane są wyniki skanowania, jest przedstawiona na ??.

Każdy plik zawiera dane dotyczące określonej wielkości fizycznej, przedstawione w formie wykresu, na którym zależność tej wielkości przedstawiono w funkcji napięcia, czasu lub innego parametru symulacji. Dzięki temu nie ma potrzeby ręcznego wyodrębniania danych z poszczególnych kadrów ani tworzenia niestandardowych skryptów do przetwarzania wyników.

Tworzenie wykresu na podstawie danych zebranych podczas skanowania.

Zestawy danych typu „sweep” można otworzyć bezpośrednio w programie OghmaNano, klikając dwukrotnie wymagany plik.

Na przykład, jeśli plik:

Q_nfree.csv

po uruchomieniu, OghmaNano automatycznie generuje wykres gęstości swobodnych elektronów w funkcji napięcia, jak pokazano na rysunku ??.

Analiza wyników w formie serii wykresów stanowi wygodny sposób na badanie zachowania symulacji, bez konieczności ręcznego przetwarzania dużej liczby plików z danymi pośrednimi. Ponieważ dane zostały już zredukowane do jednowymiarowych serii parametrów, zazwyczaj można je od razu przedstawić w formie wykresów i zinterpretować.

Wewnętrznie, pliki tymczasowe wykorzystują dokładnie te same zasoby. Format wyjściowy OghmaNano jak opisano wcześniej, co oznacza, że mogą być przechowywane albo jako czytelne dla człowieka pliki CSV, albo jako zwarte zbiory danych w formacie binarnym.