明暗 JV 曲线与 Suns–Voc 分析

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Light JV curves

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Suns-Voc

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Dark JV curves

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OghmaNano 的稳态仿真工具可让您以极高精度和极少的设置时间生成并分析 光照 JV 曲线、暗态 JV 曲线 以及 Suns–Voc 曲线。 这些仿真为决定器件性能的关键因素提供了重要洞察——帮助您诊断效率损失、识别复合机制，并评估潜在的设计改进。

您可以将光强从完全黑暗变化至超过 100 个太阳，以研究所有照明条件下的行为，并引入与温度相关的建模，以预测真实环境条件下的性能。 通过将仿真结果与您的实验数据直接对比，OghmaNano 能够轻松定位性能变化的原因，并验证您的物理模型。

仿真类型与功能：

• 光照 JV 曲线 —— 在标准测试条件或自定义光谱下评估器件效率、填充因子和最大功率点。
• 暗态 JV 曲线 —— 探测漏电流、二极管理想因子以及并联/串联电阻。
• Suns–Voc 曲线 —— 评估复合机制，并识别电压损失随照明强度的变化。
• 高级 JV 拟合算法 —— 从实验数据中提取串联/并联电阻、理想因子和饱和电流等关键参数。
• 温度相关扫描 —— 在用户定义的温度范围内建模 JV 行为，以分析热稳定性。