Manuale di OghmaNano – Editor per la microscopia a sonda di scansione

Editor per la microscopia a sonda vibranteEditor per la microscopia a sonda vibrante

Quando si simula una struttura tridimensionale, come un contatto su una vasta area, spesso si desidera mappare la resistenza tra un punto (x, z) sulla superficie del dispositivo e il contatto di estrazione della carica. Questo strumento viene utilizzato per applicare sistematicamente tensioni su regioni (z, x) e per tracciare i profili di tensione o di resistenza nello spazio. In genere, questo strumento viene utilizzato insieme a simulazioni complete di diffusione in 2/3D o al modello di circuito elettrico tridimensionale per aree estese. Ulteriori informazioni su questo strumento sono disponibili nella sezione 12.Quando si simula una struttura tridimensionale, come un contatto su una vasta area, spesso si desidera mappare la resistenza tra un punto (x, z) sulla superficie del dispositivo e il contatto di estrazione della carica. Questo strumento viene utilizzato per applicare sistematicamente tensioni su regioni (z, x) e per tracciare i profili di tensione o di resistenza nello spazio. In genere, questo strumento viene utilizzato insieme a simulazioni complete di diffusione in 2/3D o al modello di circuito elettrico tridimensionale per aree estese. Ulteriori informazioni su questo strumento sono disponibili nella sezione 12.

Scanning probe microscopy editor window showing controls for applied voltage in volts and scan section selection (e.g., whole device). — Editor per la microscopia a sonda di scansione (SPM): consente di configurare la polarizzazione applicata e l’area di scansione per le simulazioni elettriche basate su SPM.Editor per la microscopia a sonda di scansione (SPM): consente di configurare la polarizzazione applicata e l’area di scansione per le simulazioni elettriche basate su SPM.