Strona główna Przykłady Zrzuty ekranu Instrukcja obsługi Logo Bluesky. YouTube ☰
OghmaNano Platforma do symulacji wielofizycznych procesów zachodzących w optoelektronicznych urządzeniach i systemach fotonicznych. POBIERZ Przewodnik szybkiego uruchomienia

Edytor JV (edytor do symulacji w stanie ustalonym)

1. Dane wejściowe

Jeśli klikniesz ikonę edytora JV na pasku narzędzi edytorów symulacyjnych (??), otworzy się okno edytora JV (??). Edytor JV służy do konfigurowania symulacji prądu i napięcia w stanie ustalonym. Generuje on sekwencję napięć, zaczynając od zdefiniowanego napięcia początkowego i kończąc na napięciu końcowym, niezależnie od tego, czy urządzeniem jest ogniwo słoneczne, tranzystor OFET, czy inna struktura.

Simulation editors ribbon with the JV editor icon highlighted.
Otwieranie edytora JV z poziomu paska narzędzi edytorów symulacji.

Można ustawić napięcie początkowe, napięcie końcowe oraz wielkość kroku. Mnożnik kroku napięcia JV skaluje wielkość kroku po każdym przyroście. Domyślna wartość to 1,0 (bez zmiany). Ustawienie tego mnożnika nieznacznie powyżej 1,0 może zmniejszyć liczbę kroków i przyspieszyć symulację, ale wartości znacznie większe niż 1,05 mogą powodować problemy z konwergencją.

JV editor window with fields for start/stop voltage, step, step multiplier, external voltage as stop, and output controls.
Okno edytora JV do konfigurowania symulacji prądu i napięcia w stanie ustalonym.
Parametr Opis
Start voltagePoczątkowe przesunięcie napięcia w funkcji czasu (V).
Stop voltageOstateczne przesunięcie napięcia w funkcji czasu (V).
Voltage stepPrzyrost wartości między kolejnymi punktami odchylenia (V).
JV voltage step multiplierPo każdym punkcie zakres zmiany kroku jest odpowiednio dostosowywany. Wartości większe niż 1 zwiększają krok w miarę postępu procesu (przydatne dla dużych zakresów); bardzo duże wartości mogą wpłynąć na zbieżność.
Use external voltage as stopOkreśla kryterium zakończenia. Jeśli opcja jest włączona, wykorzystywane jest napięcie zewnętrzne urządzenia (po uwzględnieniu rezystancji szeregowej/bocznikowej). Jeśli opcja jest wyłączona, wykorzystywane jest wewnętrzne napięcie diody.
Maximum current densityPrzerywa skanowanie, gdy gęstość prądu osiągnie określony próg (A·m−2).
Single pointOblicza pojedynczy punkt pracy zamiast pełnego zakresu parametrów.
JV curve photon generation efficiencyWspółczynnik, który wpływa na szybkość generowania fotonów; może uwzględniać rekombinację par elektron-dziura.
Charge carrier generation modelWybiera algorytm optyczny (np. metoda macierzy przenoszenia, śledzenie promieni).
Smooth the EQE spectraWykorzystuje wygładzanie do poprawy danych EQE przed ich użyciem (stosowane w określonych symulacjach dwuwymiarowych tranzystorów OFET).
Output verbosity to diskUmożliwia sterowanie zapisywaniem danych w określonych momentach (zakresy częstotliwości, nośne, częstotliwość próbkowania). Można wybrać, czy nie zapisywać żadnych danych, zapisywać tylko kluczowe wyniki, zapisywać wszystkie dane, czy też zapisywać wszystkie dane co określony interwał.
Dump trap distributionZapisuje profil gęstości stanów pułapki na dysku.
Save parameter sweepsZapisuje zagregowane dane statystyczne (średnia wartość rekombinacji, gęstość nośników, liczba nośników uwięzionych) w katalogu sweep.

2. Wyniki/Rezultaty

Pliki symulacyjne

Files produced by the JV simulation
Nazwa pliku Opis Uwagi
charge.dat Zależność gęstości ładunku od napięcia.
jv.dat Krzywa charakterystyki prądowo-napięciowej
k.csv Stała rekombinacji k
sim_info.dat Podsumowanie symulacji (obliczone wartości \(V_{oc}\), \(J_{sc}\) itp.); patrz §4.1.4.

Katalogi symulacji

Directories written by the JV simulation
Spis treści / Katalog / Rejestr Opis Uwagi
snapshots/ Wartości kluczowych parametrów urządzenia, zależne od położenia, dla każdego kroku symulacji (np. pasmo przewodnictwa, pasmo walencyjne, potencjał, gęstość nośników, współczynniki generacji i rekombinacji).
sweep/ Wskaźniki uwzględniające przestrzenną integrację (średnie wartości dla danego urządzenia) w zależności od kroku symulacji (np. całkowita/średnia szybkość rekombinacji, średnia gęstość nośników, gęstość nośników uwięzionych).

Można włączyć te funkcje, modyfikując poziom szczegółowości danych wyjściowych zapisywanych na dysku (a w przypadku zagregowanych metryk – włączając parametr „Zapisywanie wyników różnych konfiguracji”) w edytorze symulacji.

plik sim_info.dat

Poniżej znajduje się plik JSON zawierający wszystkie kluczowe wskaźniki symulacji, takie jak \(J_{sc}\), \(V_{oc}\), a także przykładowy plik sim_info.dat:

Symbol Token JSON Znaczenie Jednostki Równanie. Odniesienie
\(FF\) ff Współczynnik wypełnienia złoto
\(PCE\) pce Współczynnik sprawności konwersji energii. %
\(P_{max}\) Pmax Moc przy maksymalnej mocy. W
\(V_{oc}\) V_oc Napięcie w obwodzie rozwartym V
\(voc_{R}\) voc_R Częstość rekombinacji w locus \(P_{max}\).
\(jv_{voc}\) jv_voc Dane JV wskazują na \(V_{oc}\).
\(jv_{pmax}\) jv_pmax Dane JV wskazują na \(P_{max}\).
\(voc_{nt}\) voc_nt Zatrzymana gęstość elektronów w obszarze \(V_{oc}\). m\(^{-3}\)
\(voc_{pt}\) voc_pt Gęstość pułapek w obszarze \(V_{oc}\). m\(^{-3}\)
\(voc_{nf}\) voc_nf Gęstość swobodnych elektronów w punkcie \(V_{oc}\). m\(^{-3}\)
\(voc_{pf}\) voc_pf Swobodna gęstość otworów w punkcie \(V_{oc}\). m\(^{-3}\)
\(J_{sc}\) J_sc Gęstość prądu zwarciowego A m\(^{-2}\)
\(jv_{jsc}\) jv_jsc Średnia gęstość ładunku w punkcie \(J_{sc}\). m\(^{-3}\)
\(jv_{vbi}\) jv_vbi Wbudowane napięcie V
\(jv_{gen}\) jv_gen Średnia częstotliwość powstawania nowych jednostek.
\(voc_{np}\) voc_np Iloczyn gęstości nośników w punkcie \(V_{oc}\).
\(j_{pmax}\) j_pmax Aktualny stan w punkcie \(P_{max}\). A m\(^{-2}\)
\(v_{pmax}\) v_maks Napięcie w punkcie \(P_{max}\). V
Symbol Token JSON Znaczenie Jednostki Równanie. Odniesienie
\(\mu_{jsc}\) mu_jsc Średnia wartość wskaźnika mobilności w punkcie \(J_{sc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu^{geom}_{jsc}\) mu_geom_jsc Średnia geometryczna mobilności w punkcie \(J_{sc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu^{geom\_micro}_{jsc}\) mu_geom_micro_jsc Geom. średnia mikrośrednia mobilności w punkcie \(J_{sc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu_{voc}\) mu_voc Średnia wartość wskaźnika mobilności w punkcie \(V_{oc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu^{geom}_{voc}\) mu_geom_voc Średnia geometryczna mobilności w punkcie \(V_{oc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\) \(\sqrt{\langle\mu_e\rangle \langle\mu_h\rangle}\)
\(\mu^{geom\_avg}_{voc}\) mu_geom_mikro_słownik Geom. średnia mikrośrednia mobilności w punkcie \(V_{oc}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\) \(\langle\sqrt{\mu_e \mu_h}\rangle\)
\(\mu^e_{pmax}\) mu_e_pmax Średnia ruchliwość elektronów w \(P_{max}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu^h_{pmax}\) mu_h_pmax Średnia ruchliwość nośników ładunku w obszarze \(P_{max}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
\(\mu^{geom}_{pmax}\) mu_geom_pmax Średnia geometryczna mobilności w punkcie \(P_{max}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\) \(\sqrt{\langle\mu_e\rangle \langle\mu_h\rangle}\)
\(\mu^{geom\_micro}_{pmax}\) mu_geom_mikro_pmax Geom. średnia mikrośrednia mobilności w punkcie \(P_{max}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\) \(\langle\sqrt{\mu_e \mu_h}\rangle\)
\(\mu_{pmax}\) mu_maks Średnia wartość wskaźnika mobilności w punkcie \(P_{max}\). m\(^2\) V\(^{-1}\) s\(^{-1}\)
Symbol Token JSON Znaczenie Jednostki Równanie. Odniesienie
\(\tau_{voc}\) tau_voc Czas rekombinacji w punkcie \(V_{oc}\). s \(R=(n-n_0)/\tau\)
\(\tau_{pmax}\) tau_pmax Czas rekombinacji w punkcie \(P_{max}\). s \(R=(n-n_0)/\tau\)
\(\tau^{all}_{voc}\) tau_wszystkie_zmienne Czas rekombinacji (wszystkie nośniki) w punkcie \(V_{oc}\). s \(R=n/\tau\)
\(\tau^{all}_{pmax}\) tau_wszystkie_pmax Czas rekombinacji (wszystkie nośniki) w punkcie \(P_{max}\). s \(R=n/\tau\)
\(\theta_{srh}\) theta_srh \(\theta_{SRH}\) Współczynnik zbierania przy \(P_{max}\) złoto str. 100, punkt 5.2a