Сучасне програмне забезпечення для моделювання та симуляції передових органічних тонкоплівкових транзисторів і двовимірних пристроїв.
1. Вступ
OghmaNano пропонує вдосконалену платформу для моделювання OFET (органічних польових транзисторів) і пов’язаних з ними двовимірних тонкоплівкових пристроїв, використовуючи самоузгоджений багатофізичний підхід. Цей симулятор поєднує в собі модель переносу заряду на основі дрейфу та дифузії, електростатику Пуассона, граничні умови контактів і модель станів пасток, щоб визначити, як заряд переміщується в плоских транзисторних структурах.
На відміну від одномірних моделей пристроїв, моделювання OFET вимагає явного врахування бічної та вертикальної геометрії пристрою. Електричні поля затвора, витоку та стоку взаємодіють у сильно анізотропних структурах, а струм контролюється тонким накопичувальним каналом на межі між напівпровідником і діелектриком. Тому OghmaNano безпосередньо моделює OFET у двовимірному просторі, що дозволяє користувачеві вивчати процеси накопичення, виснаження, ін’єкції, контактні ефекти та формування каналу в реалістичних схемах. Основний принцип роботи проілюстровано в рисунок ??, а стандартна геометрія моделювання показана в рисунок ??.
Це робить програмне забезпечення корисним як для аналізу результатів вимірювань транзисторів, так і для віртуального проєктування пристроїв перед їх виготовленням. Покрокова інструкція доступна в рисунок ??, а повна серія навчальних матеріалів починається з частина A: змоделюйте свій перший OFET.
✨ Що ви можете робити за допомогою OghmaNano?
- Моделюйте реалістичні геометричні параметри OFET: визначайте структуру з верхнім або нижнім затвором, чітко вказуючи геометрію витоку, стоку та затвора.
- Моделювання процесу формування каналу, керованого затвором: вирішення проблем накопичення та зменшення поверхневого заряду, а також бічного потоку струму у двовимірному просторі.
- Включіть фізику, що враховує обмеження, пов’язані з наявністю пасток: опишіть стани, в яких утворюються пастки, та енергетичну неоднорідність в об’ємі напівпровідника або на межі між напівпровідником і діелектриком.
- Вивчайте контактну інженерію: досліджуйте методи введення заряду в область джерела/стоку, схеми зміщення затвора та розташування контактів, використовуючи редактор контактів, показаний на рисунок ??.
- Візуалізуйте внутрішні процеси: створіть дво- та тривимірні схеми розподілу потенціалу, щільності заряду, заповненості пасток і напрямку потоку струму.
- Працюйте з пристроями, які мають складні геометричні розміри: моделюйте транзисторні структури з великим співвідношенням сторін, які недостатньо точно описуються одномірними наближеннями.
- Виділіть фізично значущі параметри: проаналізуйте характеристики передачі та вихідні криві з точки зору рухливості носіїв заряду, щільності пасток, порогової поведінки та впливу контактів.
Спробуйте розглянути приклад OFET.
👉 Почніть з короткого посібника з використання OFET, а потім перейдіть до візуалізації результатів OFET у 2D та 3D, редагування електричних параметрів і аналізу стабільності розв’язувача та створення сітки.
2. Чому для моделювання OFET потрібна двовимірна модель.
В органічному польовому транзисторі (OFET) затвор не подає струм безпосередньо через пристрій. Натомість він створює електричне поле в діелектрику, що індукує тонкий провідний канал на межі між напівпровідником і ізолятором. Після формування цього каналу напруга між виводом-джерелом і виводом-стоком змушує струм текти вбік уздовж цього каналу. Така поведінка за своєю суттю є двовимірною: вертикальне поле, що створюється затвором, контролює бічний потік струму між виводом-джерелом і виводом-стоком.
З цієї причини, для створення фізично реалістичної симуляції OFET потрібне щось більше, ніж просте одномірне наближення. OghmaNano безпосередньо розв’язує задачу щодо внутрішнього електростатичного потенціалу, концентрації носіїв заряду та розподілу струму у двовимірному просторі, що дає змогу зрозуміти, як геометрія, зміщення та параметри матеріалу впливають на поведінку транзистора.
Отриманий внутрішній стан можна безпосередньо візуалізувати. Наприклад, карта електростатичного потенціалу, показана на рисунок ??, демонструє, як напруги на затворі та стоку перерозподіляють внутрішнє поле в межах пристрою. Такий тип вихідних даних особливо корисний під час діагностики формування каналу, периферійних полів або проблем із належним увімкненням.
3. Конструкція пристрою, контакти та активні шари.
Схема розташування транзисторів визначається в редакторі шарів, який показано на рисунок ??. У OghmaNano шари можна позначити як електрично активні або неактивні, що дає змогу відокремити провідні напівпровідникові області від пасивних діелектричних шарів і структурних елементів.
Потім геометрія контакту визначається в редакторі контактів, який показано на малюнок ??. Це важливо для двовимірного моделювання транзистора, оскільки положення та ширина контакту впливають на те, як розв’язувач застосовує граничні умови для виводу, затвора та стоку на всій сітці.
Це дає змогу вивчати не лише стандартні схеми OFET, але й більш спеціалізовані структури, де геометрія, товщина діелектрика або розташування контактів суттєво впливають на отримані результати вимірювань.
4. Візуалізація роботи внутрішніх компонентів транзистора
Однією з переваг OghmaNano є те, що він не обмежується лише зовнішньою кривою передачі. Під час кожної симуляції програмне забезпечення записує внутрішні змінні розв’язувача в каталог snapshots, що дозволяє користувачеві переглядати електростатичний потенціал, щільність заряду, щільність пасток та пов’язані з ними величини як функцію зміщення.
Ці результати можна переглядати як у двовимірному, так і в тривимірному режимі за допомогою інструмента перегляду знімків, що дає змогу відстежувати зміни внутрішнього стану під час зміни напруги. Це особливо корисно для OFET-транзисторів, де просторове розташування провідного каналу та вплив поля затвора є ключовими для роботи пристрою.
До наступних корисних кроків належать: візуалізація результатів моделювання OFET у дво- та тривимірному просторі, редагування параметрів напівпровідника та ізолятора і розуміння стабільності розв’язувача та методів дискретизації в двовимірних транзисторних моделюваннях.