Strona główna Przykłady Zrzuty ekranu Instrukcja obsługi Logo Bluesky. YouTube ☰
OghmaNano Platforma do symulacji wielofizycznych procesów zachodzących w optoelektronicznych urządzeniach i systemach fotonicznych. POBIERZ Przewodnik szybkiego uruchomienia

Statystyka Fermiego-Diraca a statystyka Maxwella-Boltzmanna w półprzewodnikach.

Fermi–Dirac distribution showing occupation probability versus energy in semiconductors
Prawdopodobieństwo zajętości zgodnie z rozkładem Fermiego-Diraca w funkcji energii.

Statystyki Fermiego-Diraca i Maxwella-Boltzmanna są wykorzystywane w modelowaniu elementów półprzewodnikowych do określania zależności między gęstością nośników a położeniem quasi-poziomów Fermiego. Statystyki te określają, w jaki sposób elektrony zajmują dostępne stany energetyczne w obrębie gęstości stanów, a tym samym bezpośrednio wpływają na koncentrację nośników, właściwości elektrostatyczne, szybkość rekombinacji i właściwości transportowe.

Na tej stronie wyjaśniono, w jaki sposób oblicza się stężenie nośników w półprzewodnikach, wykorzystując gęstość stanów i rozkład Fermiego-Diraca. Następnie przedstawiono przybliżenie Maxwella-Boltzmanna, które jest powszechnie stosowane w modelowaniu półprzewodnikowych urządzeń opartym na zjawiskach dryfu i dyfuzji. Ponadto omówiono różnice między statystyką Fermiego-Diraca i statystyką Maxwella-Boltzmanna, ich fizyczne znaczenie, koszty obliczeniowe oraz zakres stosowalności w półprzewodnikach zdegenerowanych i niezdegenerowanych.

1. Gęstość stanów.

Gęstość stanów określa, ile stanów elektronowych jest dostępnych dla każdej wartości energii w paśmie przewodnictwa. Każdy stan może zawierać jeden elektron lub dwa elektrony, jeśli uwzględni się spin. Rozkład dostępnych stanów przedstawiono schematycznie na rysunku ??.

Dla trójwymiarowego półprzewodnika o parabolicznej strukturze pasma przewodnictwa, gęstość stanów wyraża się wzorem:

\[ g_{c}(E)=\frac{1}{2\pi^{2}} \left(\frac{2m_{n}^{*}}{\hbar^{2}}\right)^{3/2} \sqrt{E-E_{c}} \]

gdzie \(g_{c}(E)\) oznacza gęstość stanów, \(m_{n}^{*}\) to efektywna masa elektronu, \(\hbar\) to zredukowana stała Plancka, a \(E_{c}\) to dolna granica pasma przewodnictwa.

Gęstość stanów wynosi zero poniżej dolnej granicy pasma przewodnictwa, ponieważ w tym obszarze nie występują stany pasma przewodnictwa. Powyżej \(E_{c}\) liczba dostępnych stanów rośnie wraz ze wzrostem energii.

Relationship between density of states, Fermi–Dirac occupation probability and carrier density in the conduction band
Gęstość nośników ładunku jest iloczynem gęstości stanów i prawdopodobieństwa zajęcia zgodnie z rozkładem Fermiego-Diraca.

2. Statystyka Fermiego-Diraca

Gęstość stanów określa, ile stanów elektronowych jest dostępnych dla każdej wartości energii, natomiast rozkład Fermiego-Diraca opisuje prawdopodobieństwo, że każdy z tych stanów jest zajęty przez elektron. Rozkład ten przedstawiono schematycznie na rysunku ??.

\[ f(E)=\frac{1}{1+\exp\left(\frac{E-E_{F}}{k_{B}T}\right)} \]

W tym równaniu \(f(E)\) oznacza prawdopodobieństwo, że dany stan energetyczny \(E\) jest zajęty przez elektron, \(E_{F}\) to poziom Fermiego, \(k_{B}\) to stała Boltzmanna, a \(T\) to temperatura.

Stany o energii znacznie niższej od poziomu Fermiego są niemal na pewno zajęte, natomiast stany o energii znacznie wyższej od poziomu Fermiego prawdopodobnie nie zawierają elektronów. W pobliżu poziomu Fermiego prawdopodobieństwo zajęcia stanów zmienia się płynnie, przechodząc od stanów zajętych do stanów pustych.

3. Gęstość elektronów w paśmie przewodnictwa, obliczana z wykorzystaniem statystyki Fermiego-Diraca.

Gęstość elektronów w paśmie przewodnictwa oblicza się, mnożąc gęstość stanów przez prawdopodobieństwo zajęcia zgodnie z rozkładem Fermiego-Diraca, a następnie całkując po energii, co przedstawiono w ??.

\[ {\color{green} n} = \int_{E_{c}}^{\infty} {\color{blue} g_{c}(E)} {\color{red} f(E)} \,dE \]

Po podstawieniu gęstości stanów w paśmie przewodnictwa oraz funkcji rozkładu Fermiego-Diraca otrzymujemy:

4. Oznaczenia używane w całce Fermiego-Diraca

Pełna całka gęstości nośników, wyprowadzona powyżej, zazwyczaj nie ma prostego rozwiązania analitycznego. Zamiast tego, powszechnie stosuje się jej uproszczoną formę zapisu, wykorzystując skróconą notację całki Fermiego-Diraca.

Ta notacja często pojawia się w fizyce półprzewodników, ponieważ stanowi zwięzły sposób zapisu statystyk nośników ładunku w warunkach zdegenerowanych.

W tym przypadku \(F_{1/2}\) oznacza całkę Fermiego-Diraca pierwszego rzędu, a \(N_c\) – efektywną gęstość stanów w paśmie przewodnictwa.

\[ {\color{green} n} = \int_{E_{c}}^{\infty} {\color{blue}{ \frac{1}{2\pi^{2}} \left(\frac{2m_{n}^{*}}{\hbar^{2}}\right)^{3/2} \sqrt{E-E_{c}} }} {\color{red}{ \frac{1}{ 1+\exp\left(\frac{E-E_{F_n}}{k_{B}T}\right)} }} \,dE \]

Na tym wykresie niebieski kolor symbolizuje liczbę dostępnych stanów elektronowych dla danego poziomu energii, natomiast czerwony kolor oznacza prawdopodobieństwo, że te stany są zajęte przez elektrony.

W silnie domieszkowanych półprzewodnikach, w strukturach z warstwami kwantowymi, w modelach transportu zdegenerowanego oraz w niektórych nieorganicznych diodach LED konieczne jest obliczenie pełnej całki Fermiego-Diraca, ponieważ przybliżenie Maxwella-Boltzmanna staje się niedokładne.

3. Wyprowadzenie przybliżenia Maxwella-Boltzmanna

Przybliżenie Maxwella-Boltzmanna jest poprawne, gdy półprzewodnik nie jest zdegenerowany, co oznacza, że gęstość elektronów jest na tyle niska, że większość stanów elektronowych w paśmie przewodnictwa pozostaje pusta. W takich warunkach poziom Fermiego znajduje się kilka \(k_{B}T\) poniżej krawędzi pasma przewodnictwa, co oznacza, że \(E-E_{F_n} \gg k_{B}T\), a prawdopodobieństwo zajętości spełnia \(f(E)\ll1\). Fizycznie oznacza to, że elektrony są wystarczająco rozrzedzone, aby zasada wykluczenia Pauliego nie ograniczała w znaczący sposób zajętości stanów. Innymi słowy, elektrony zachowują się w przybliżeniu jak gaz klasyczny, ponieważ dostępnych jest znacznie więcej stanów niż elektronów, które je zajmują. To przybliżenie jest dokładne dla większości konwencjonalnych urządzeń półprzewodnikowych, pracujących przy umiarkowanych gęstościach nośników, w tym dla wielu diod krzemowych, ogniw słonecznych i organicznych urządzeń półprzewodnikowych. Jednak przestaje być ono poprawne przy bardzo wysokich gęstościach nośników, dużych poziomach domieszkowania lub silnej akumulacji nośników, gdy znacząca część dostępnych stanów staje się zajęta. W takich warunkach \[ 1+\exp\left(\frac{E-E_{F_n}}{k_{B}T}\right) \approx \exp\left(\frac{E-E_{F_n}}{k_{B}T}\right) \], a rozkład Fermiego-Diraca sprowadza się do

\[ f(E)\approx \exp\left( -\frac{E-E_{F_n}}{k_{B}T} \right) \]

Po podstawieniu tego do całki gęstości nośników otrzymujemy:

\[ {\color{green} n} = \int_{E_{c}}^{\infty} {\color{blue} g_{c}(E)} {\color{red}{ \exp\left( -\frac{E-E_{F_n}}{k_{B}T} \right) }} \,dE \]

Ocena wartości całki.

\[ {\color{green} n} = N_{c} \exp\left( \frac{E_{F_n}-E_{c}}{k_{B}T} \right) \qquad N_{c}=2 \left( \frac{2\pi m_{n}^{*}k_{B}T}{h^{2}} \right)^{3/2} \]

gdzie \(N_c\) oznacza efektywną gęstość stanów w paśmie przewodnictwa. Jest to standardowe równanie Maxwella-Boltzmanna, określające gęstość nośników, stosowane w większości modeli półprzewodnikowych opartych na zjawiskach dryfu i dyfuzji.

4. Kiedy należy stosować statystykę Maxwella-Boltzmanna, a kiedy statystykę Fermiego-Diraca?

Statystyki Maxwella-Boltzmanna należy stosować, gdy półprzewodnik znajduje się w stanie... niezdegenerowanyco oznacza, że stężenie nośników ładunku jest na tyle niskie, że większość stanów w pasmach przewodnictwa i walencyjnych pozostaje pusta. W takich warunkach poziomy quasi-Fermiego pozostają na poziomie kilku... \(k_{B}T\) Wpływ oddalenia od krawędzi pasma energetycznego oraz efektów związanych z wypełnianiem stanów jest pomijalny. To przybliżenie jest poprawne dla większości konwencjonalnych urządzeń półprzewodnikowych, pracujących przy umiarkowanych stężeniach nośników, w tym dla wielu silikonowych złącz p-n, symulacji dryfu i dyfuzji w diodach OLED, organicznych ogniw fotowoltaicznych oraz cienkowarstwowych ogniw słonecznych, pracujących daleko od stanu degeneracji.

Z kolei w przypadku półprzewodników zdegenerowanych należy stosować statystykę Fermiego-Diraca, ponieważ gęstość nośników staje się na tyle wysoka, że znacząca część dostępnych stanów elektronowych zostaje zajęta. W takich sytuacjach quasi-poziom Fermiego zbliża się do pasma lub wchodzi w nie, a zasada wykluczenia Pauliego ma istotny wpływ na rozkład nośników. Przykłady, w których często wymagane jest stosowanie statystyki Fermiego-Diraca, obejmują silnie domieszkowane półprzewodniki, struktury kwantowe, diody LED o wysokim prądzie, warstwy o dużej akumulacji nośników oraz niektóre nieorganiczne struktury laserowe.

W numerycznych symulacjach półprzewodników zazwyczaj preferuje się statystykę Maxwella-Boltzmanna, o ile to możliwe, ponieważ wynikowe równania opisujące gęstość nośników można rozwiązywać analitycznie i bardzo efektywnie. Dzięki temu równania stają się prostsze, obliczenia przebiegają szybciej, a rozwiązanie jest numerycznie bardziej stabilne. Z kolei statystyka Fermiego-Diraca wymaga znacznie bardziej czasochłonnych obliczeń numerycznych, ponieważ gęstość nośników zazwyczaj uzyskuje się poprzez bezpośrednie obliczenie całki Fermiego-Diraca. W praktyce często wiąże się to z koniecznością iteracyjnego obliczania wartości dla różnych poziomów energii lub wielokrotnego obliczania wartości całek z tabel, co generuje znaczne obciążenie obliczeniowe w porównaniu z analitycznym przybliżeniem Maxwella-Boltzmanna.

W związku z tym, gdy nie ma potrzeby modelowania zdegenerowanych populacji nośników, zazwyczaj preferowane jest stosowanie statystyki Maxwella-Boltzmanna. Jednakże, gdy zdegenerowane populacje nośników mają istotne znaczenie fizyczne, należy stosować pełną statystykę Fermiego-Diraca, aby poprawnie uwzględnić efekty związane z wypełnianiem stanów i zajętością nośników. Niniejsza analiza dotyczy jedynie statystyki populacji swobodnych nośników w pasmach przewodnictwa i walencyjnych. Bardzo głębokie stany pułapkowe zazwyczaj wymagają stosowania statystyki zajętości Fermiego-Diraca, niezależnie od tego, czy swobodne nośniki są zdegenerowane, chociaż ten aspekt wykracza poza zakres niniejszej dyskusji.

Wykorzystanie statystyki Maxwella-Boltzmanna w przypadku półprzewodników zdegenerowanych może prowadzić do znacznego zawyżenia wartości gęstości nośników, ponieważ to przybliżenie nie uwzględnia zasady wykluczenia Pauliego ani efektu nasycenia stanów.

5. Przykładowe skrypty do tworzenia wykresów rozkładów Fermiego-Diraca i Maxwella-Boltzmanna.

Różnice między statystyką nośników ładunku opisaną przez rozkład Maxwella-Boltzmanna i rozkład Fermiego-Diraca można zbadać, korzystając z poniższych przykładowych skryptów napisanych w językach Python i MATLAB/Octave. Skrypty te odtwarzają zachowanie opisane w ?? i umożliwiają interaktywne badanie wpływu zmian temperatury, gęstości nośników i quasi-poziomu Fermiego.

Przykład w języku Python.


import math
import matplotlib.pyplot as plt

# Constants
k_B = 8.617333262e-5
T = 300.0
Nc = 2.8e19

# Generate energy axis
Ef_minus_Ec = []

x = -0.4

while x <= 0.2:
    Ef_minus_Ec.append(x)
    x += 0.002

# Maxwell-Boltzmann carrier density
n_mb = []

for eta in Ef_minus_Ec:
    n = Nc * math.exp(eta / (k_B * T))
    n_mb.append(n)

# Approximate Fermi-Dirac carrier density
n_fd = []

for eta in Ef_minus_Ec:

    arg = eta / (k_B * T)

    fd = Nc * math.log(1.0 + math.exp(arg))

    n_fd.append(fd)

# Plot
plt.figure(figsize=(7,5))

plt.semilogy(
    Ef_minus_Ec,
    n_mb,
    color='#d00000',
    linewidth=3,
    label='Maxwell-Boltzmann'
)

plt.semilogy(
    Ef_minus_Ec,
    n_fd,
    color='#0044ff',
    linewidth=3,
    label='Fermi-Dirac'
)

plt.xlabel(r'$E_{F_n}-E_c$ (eV)')
plt.ylabel(r'Electron density (cm$^{-3}$)')

plt.grid(True)
plt.legend()

plt.tight_layout()
plt.show()

Przykład w MATLABie/Octave.


k_B = 8.617333262e-5;
T = 300.0;
Nc = 2.8e19;

Ef_minus_Ec = -0.4:0.002:0.2;

n_mb = Nc .* exp(Ef_minus_Ec ./ (k_B*T));

arg = Ef_minus_Ec ./ (k_B*T);
n_fd = Nc .* log(1.0 + exp(arg));

semilogy(Ef_minus_Ec, n_mb, 'r', 'LineWidth', 3);
hold on;
semilogy(Ef_minus_Ec, n_fd, 'b', 'LineWidth', 3);

xlabel('E_F - E_c (eV)');
ylabel('Electron density');

legend('Maxwell-Boltzmann', 'Fermi-Dirac');

grid on;

👉 Następny krok: Przejdź do sekcji Dlaczego pułapki są ważne w organicznych półprzewodnikach.